Inaugurato il microscopio elettronico FIB/SEM - Fondazione CR Firenze
4.6 (490) · € 30.50 · In Magazzino
Focused Ion Beam — Center for Research in Multiscale Science and Engineering — UPC. Universitat Politècnica de Catalunya
ZEISS FIB-SEM Upgrades
Microscopia Elettronica a Scansione (SEM)
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Fascio ionico focalizzato - Wikipedia
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HI.Lab dà il benvenuto al suo nuovo FEG-SEM
Microscopio SEM - Sigma series - ZEISS Microscopy - a emissione di campo mediante scansione / per scienze della vita / da ricerca
Caratterizzazione Strutturale e di Superficie - [Microscopia elettronica in scansione + Focused Ion Beam]